TEC2000淺制冷光譜儀

TEC2000淺制冷光譜儀

TEC2000淺制冷光譜儀

TEC2000 是一款背照式制冷型微型光纖光譜儀，結構設計小巧，光譜范圍可靈活配置。具備高分辨率（可達 0.07nm）、低雜散光（~0.5%）的核心優勢，同時擁有低暗噪聲、高信噪比特性，光譜響應穩定性與重現性良好，能滿足工業現場長時間檢測的可靠性要求，廣泛應用于激光測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等場景。

核心產品規格

關鍵配置

l    超高分辨率：可達 0.07nm，滿足高精準檢測需求；

l    靈活制冷：制冷溫度可選擇 10℃或 - 5℃，兼顧低噪聲與穩定性；

l     連接可靠：光纖插拔強度一致性≤7%，保障檢測重復性；

l     穩定耐用：適配工業現場及科研場景的長時間連續檢測需求；

l     低噪表現：CCD 量化背景噪聲≤10 RMS（最小積分時間），信號更清晰；

l     接口完備：配置 USB、串口通訊接口及 24PIN 交互接口，內置專有 DAC 和 ADC，可實現配套光源的使能、強度控制及功率反饋；

l     采集多樣：支持單次、連續、軟件觸發、同步外觸發、異步復位外觸發等多種采集模式。

詳細參數表

規格選型表

定制說明

l    光譜范圍及其他參數可根據客戶實際應用場景定制；

l    分辨率實際值存在約 120% 的偏差（即實際分辨率不高于標值的 120%）。

典型光譜

（1）10 ms積分時間下的典型暗光譜

（2）暗噪聲VS積分時間

（3）10 ms積分時間信噪比（有源）

（4）動態范圍

（5）光譜譜線燈光譜（200-1000 nm）

（6）氘鎢燈光譜（200-1000 nm）

主要應用領域

激光器測量領域

l     基于光譜分析原理，實時監測激光器的波長、譜線寬度、頻率穩定性和光譜輪廓等關鍵參數，保障激光器在各場景中的精確性與穩定性；

l     廣泛適用于精密制造、通信、科學研究及醫療設備等對激光器性能要求嚴苛的領域。

激光器中心波長測量譜圖